Lumineszenzuntersuchungen am optischen Raster-Nahfeld-Mikroskop

Die Meßapparatur zur Tieftemperatur-Raster-Tunnel/Sonden-Lumineszenz-Mikroskopie ist Eckbaustein einer meßtechnischen Gesamtkonzeption zur Charkterisierung von Halbleiterstrukturen mit sub-mikroskopischen, nanoskopischen Dimensionen an der Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg.

Zentrale Stützen diese Konzeptes, das höchste Ortsauflösung mit Lumineszenzspektroskopie verknüpft, sind zwei Meßtechniken:

• die Raster-Kathodolumineszenz (KL) und
• die Photolumineszenz am optischen Raster-Nahfeld-Mikroskop (SNOM).

Ergänzt werden diese Verfahren durch die am Institut realisierten

• spektroskopischen (Photolumineszenz, Anregungsspektroskopie),
• strukturellen (Elektronenmikroskopie: SEM, TEM; Raster-Tunnel/Sonden-Mikroskopie) und
• elektrischen (CV, DLTS,...)

	interessante SNOM-Gruppen:
	Lumineszenzuntersuchungen am SNOM MBI Berlin (Elsaesser, Lienau) TU Berlin (Dähne)
	Präparation der Glasfaserspitzen ETH Zürich (Zenobi), CH Uni Münster (Fuchs)

Blick ins Labor

	Dr. Thomas Hempel e-mail:  thomas.hempel@physik.uni-magdeburg.de	Tel.: ++49 (0)391 67 12472
	Labor	Tel.: ++49 (0)391 67 11259
		Fax.: ++49 (0)391 67 11130