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OvGU GaN-on-Si technology now at OSRAM

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Extracting accurate capacitance voltage curves from impedance spectroscopy
Kay-Michael Guenther, Hartmut Witte, Alois Krost, Stefan Kontermann, and Wolfgang Schade, Applied Physics Letters 100, 042101 (2012), abstract

Optical anisotropy of a-plane Al0.8In0.2N grown on an a-plane GaN pseudosubstrate
E. Sakalauskas,, M. Wieneke, A. Dadgar, G. Gobsch, A. Krost, and R. Goldhahn, Physica Status Solidi A 209, 29 (2012), abstract

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